アプリケーション
バーンインオーブンは、電子デバイス、IC、その他の半導体デバイスのテストに適用できます。
バーンインオーブンの特徴:
- 特定のユーザー要件に応じた高度にカスタマイズされたオーブン設計
- マルチセーフティプロテクション
- チャンバー全体に均一な空気循環
試験基準 バーン・イン・オーブン:
iec 60068-2-1: 2007, iec 60068-2-2: 2007, iec 60068-2-14: 2009, gb/t 11158: 2008, gb/t 2423.2: 2008, gb/t 30435: 2013.
技術パラメーター:
| モデル | SZ-BIO-12C、SZ-BIO-24C、SZ-BIO-36C、SZ-BIO-48C、SZ-BIO-78C | |
| BIBスロット | 12BIBスロット、24BIBスロット、36BIBスロット、48BIBスロット、78BIBスロット | |
| サイズ | 試験要件に応じてカスタマイズ | |
| 温度範囲 | RT+20℃~+200 | |
| 温度変動 | ±0.5℃ | |
| 温度偏差 | ≤±2℃ | |
| 温度の均一性 | ≤±2℃ | |
| 加熱率 | RT→+200℃≦25分 | |
| 冷却率 | 200℃→50℃≦30min (待ち時間を短縮し、ファブの生産性を向上させるために設計された高速冷却) | |
| 私たちの強み | BIB、フィードスルー、バックプレーン、ドライバーボードの寸法に対応し、特定のユーザーニーズに合わせて高度にカスタマイズされたオーブン設計。 各種センサーを装備(マルチスポット過温プロテクター、過温センサー、エアフローメーター、エア圧差センサー、インターロックセンサーなど) | |
| オプション | HTOLおよびLTOL試験要件を満たすためのマイナス温度条件を提供する内蔵冷凍ユニットを追加。 | |


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