高加速ストレス試験チャンバー

Highly Accelerated Stress Test Chamber (HAST)は、電子部品や材料にかかるさまざまな環境ストレスをシミュレートするために設計されています。このチャンバーは、製品を温度、湿度、圧力の極限状態にさらすことで試験プロセスを加速し、潜在的な故障箇所の発見を早めるとともに、過酷な使用状況下での製品の信頼性を確保します。