Hochgradig beschleunigte Stresstestkammer

Die Highly Accelerated Stress Test Chamber (HAST) wurde entwickelt, um eine Reihe von Umweltbelastungen für elektronische Komponenten und Materialien zu simulieren. Diese Kammer beschleunigt den Testprozess, indem sie die Produkte extremen Temperatur-, Feuchtigkeits- und Druckbedingungen aussetzt. Dadurch wird die Entdeckung potenzieller Fehlerquellen beschleunigt und die Zuverlässigkeit der Produkte unter harten Einsatzbedingungen sichergestellt.